微盲孔填充及通孔金属化: 技术选择及解决方案

电子产品向轻、薄、短、微型化的发展趋势要求印制线路板及包装材料的空间体积向更小型化发展,高密度互连(HDI)技术已经成为发展的必然趋势。线路板的功能可靠性在很大程度上取决于直接金属化、微盲孔填充及通孔金属化的品质。

   
为改善流程的性能,人们往往会提高工艺流程的复杂程度,使用不同类型的添加剂,这使流程更加难以控制。另外,PPR脉冲电镀技术作为一种解决方案已被应用,最终还是要通过功能性化学品的氧化还原保护作用来维持添加剂的稳定性。


一项新的技术已经问世,此技术简单而又能有效地控制流程,可实现微孔填充与通孔金属化同步进行,已经在整板电镀和图形电镀的应用中得到了证实与认可。该技术可应用于传统垂直起落的浸入式直流电镀生产线。另外,添加剂的使用量少,从而延长了镀液使用寿命,流程质量也易于管理与控制。


引言

   
电子产品的小型化要求高密度互连(HDI)线路板和包装材料要向更小型的方向发展。 机加工之后的微、通孔板,孔壁裸露的电介质必须经过金属化和镀铜导电处理,毫无疑问,其目的是为了确保良好的导电性和稳定的性能,特别是在定期热应力处理后。

   
在印制线路板电介质的直接金属化概念中,ENVISION® HDI工艺在HDI印制线路板的生产中被认为是高可靠性、高产量的环保工艺。

   
这项新工艺可使微盲孔填充及通孔金属化同步进行,使用普通的直流电源具有优异的深镀能力。另外一些研究显示,CUPROSTAR® CVF1在不改变电源及镀槽设计的条件下仍能保形填盲孔,不影响通孔电镀的性能。

   
本文总结了CUPROSTAR CVF1最新研发结果、工艺的潜能以及对不同*作控制条件的兼容性,描述了微盲孔和通孔的物理特性和导电聚合体用于硬板和软板的直接金属化技术新的发展方向以及与CVF1电镀的兼容性。